扫描隧道显微镜

扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope，缩写为STM)，亦称为掃描穿隧式顯微鏡，是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁(Gerd K. Binnig)及亨利希·罗勒(Heinrich Rohrer)在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明，两位发明者因此与厄恩斯特·鲁什卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。作为一种扫描探针显微术工具，扫描隧道显微镜可以让科学家观察和定位单个原子，它具有比它的同类原子力显微镜更加高的分辨率。此外扫描隧道显微镜在低温下(4K)可以利用探针尖端精确操纵原子，因此它在纳米科技既是重要的测量工具又是加工工具。

[编辑] 概述

扫描隧道显微镜是一种利用量子力学的隧道效应的非光学显微镜。

[编辑] 基本结构

[编辑] 工作方式及理论基础

[编辑] 应用

[编辑] 扫描隧道能谱

[编辑] 参见

• 顯微鏡
• 扫描电化学显微镜

[编辑] 外部链接

• IBM阿尔马登研究中心STM图像画廊
• 维也纳技术大学STM图像画廊

“扫描隧道显微镜”是与科学技术相关的未完成小作品。欢迎您积极编辑或修订扩充其内容。